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避暗反應(yīng)測(cè)定大鼠學(xué)習(xí)記憶功能方法的探討
日期：2024-12-06 02:59
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摘要：
避暗反應(yīng)測(cè)定大鼠學(xué)習(xí)記憶功能方法的探討
目的 為了提高避暗反應(yīng)測(cè)定動(dòng)物學(xué)習(xí)記憶功能的敏感性本實(shí)驗(yàn)對(duì)三種實(shí)驗(yàn)及統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行了評(píng)價(jià)。
方法 采用IBO致基底前腦膽堿能神經(jīng)元損傷模型和東莨菪堿所致的記憶障礙模型對(duì)單次簡單測(cè)試法多次簡單測(cè)試法和多次記分測(cè)試法的敏感性進(jìn)行了比較。
結(jié)果 對(duì)于基底前腦損傷模型單次簡單測(cè)試法的潛伏期學(xué)習(xí)記憶指標(biāo)無法顯示出模型組與對(duì)照組之間的差異多次簡單測(cè)試法兩種指標(biāo)均能顯示出顯著性差異且較多次記分測(cè)試法的指標(biāo)差異的顯著性高對(duì)于東莨菪堿致癡呆模型也有同樣的效果。
結(jié)論 多次簡單測(cè)試法更能敏感地反映動(dòng)物的學(xué)習(xí)記憶功能。
關(guān)鍵詞 避暗反應(yīng); 癡呆模型; 學(xué)習(xí)記憶障礙
關(guān)鍵詞 避暗反應(yīng); 癡呆模型; 學(xué)習(xí)記憶障礙
